X-ray ptychographic computed tomography at 16 nm isotropic 3D resolution
Pysyväisosoite
Lähdeviite
Holler , M , Diaz , A , Guizar-Sicairos , M , Karvinen , P , Färm , E , Härkönen , E , Ritala , M , Menzel , A , Raabe , J & Bunk , O 2014 , ' X-ray ptychographic computed tomography at 16 nm isotropic 3D resolution ' , Scientific Reports , vol. 4 , 3857 . https://doi.org/10.1038/srep03857
| Julkaisun nimi: | X-ray ptychographic computed tomography at 16 nm isotropic 3D resolution |
| Tekijä: | Holler, M.; Diaz, A.; Guizar-Sicairos, M.; Karvinen, P.; Färm, Elina; Härkönen, Emma; Ritala, Mikko; Menzel, A.; Raabe, J.; Bunk, O. |
| Tekijän organisaatio: | Department of Chemistry Mikko Ritala / Principal Investigator |
| Päiväys: | 2014-01-24 |
| Kieli: | eng |
| Sivumäärä: | 5 |
| Kuuluu julkaisusarjaan: | Scientific Reports |
| ISSN: | 2045-2322 |
| DOI-tunniste: | https://doi.org/10.1038/srep03857 |
| URI: | http://hdl.handle.net/10138/162565 |
| Avainsanat: |
ATOMIC LAYER DEPOSITION
PHASE RETRIEVAL DIFFRACTION MICROSCOPY ALGORITHMS NANOSCALE PILATUS 114 Physical sciences |
| Vertaisarvioitu: | Kyllä |
| Tekijänoikeustiedot: | cc_by |
| Pääsyrajoitteet: | openAccess |
| Rinnakkaistallennettu versio: | publishedVersion |
Tiedostot
Latausmäärä yhteensä: Ladataan...
| Tiedosto(t) | Koko | Formaatti | Näytä |
|---|---|---|---|
| srep03857.pdf | 1.705MB | Avaa tiedosto |