Annoksen ja pinta-alan tulon (DAP) tarkkuus matalissa annoksissa
Show simple item record
dc.contributor |
Helsingin yliopisto, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta, Fysiikan laitos |
fi |
dc.contributor |
University of Helsinki, Faculty of Science, Department of Physics |
en |
dc.contributor |
Helsingfors universitet, Matematisk-naturvetenskapliga fakulteten, Institutionen för fysik |
sv |
dc.contributor.author |
Rosta, Kawa |
|
dc.date.issued |
2017 |
|
dc.identifier.uri |
URN:NBN:fi-fe2017112252129 |
|
dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10138/229160 |
|
dc.description.abstract |
Tässä työssä tarkastellaan annoksen ja pinta-alan tulon mittarin (DAP-mittarin) toimintaa ja käyttäytymistä pienissä säteilyannoksissa, jossa DAP-arvot ovat matalia.
Lasten tutkimuksissa käytetään pieniä kuvausarvoja, jonka seurauksena lapsipotilaaseen kohdistuu matalia annoksia. Lasten thorax-tutkimuksissa potilaaseen kohdistuva keskimääräinen DAP-arvo on 19 mGy x cm^2. DAP-arvon tarkkuus matalissa annoksissa on tärkeä, sillä lapsuudessa saatu säteilyaltistus aiheuttaa suuremman riskin kuin vastaava altistus aikuisiässä. Lapset ovat säteilysuojelun kannalta erityisasemassa ja lasten tutkimusten oikeutusharkintaan ja optimointiin tulee kiinnittää erityistä huomiota.
Tutkimuksessa DAP-mittarin tarkkuutta matalissa annoksissa tarkasteltiin käyttäen pinta-ala menetelmän kalibrointia. Kalibrointi tapahtui siten, että DAP-mittareita käytettiin kenttämittareina ja Raysafe Xi-annosmittaria vertailumittarina. Toisin sanoen DAP-mittarista saatuja arvoja tarkasteltiin vertaamalla niitä Raysafe Xi-annosmittarin arvoihin. DAP-mittari on kiinnitetty röntgenputken eteen ja pinta-ala menetelmässä annosmittari asetetaan röntgenputken alapuolelle säteilykeilaa vasten. Tällöin kuvaamisessa molemmat mittarit altistuvat säteilylle samanaikaisesti.
Tulokseksi saatiin, että DAP-mittarit ovat kalibroitu korkean kuvausjännitteen, sähkömäärän ja ilman lisäsuodatuksen avulla, eikä kalibroinnissa ole otettu huomioon matalia annoksia. Tutkimalla DAP-mittarin tarkkuutta matalissa annoksissa huomattiin, että DAP-mittaria koskeva laitevaatimus, jossa näyttämä saa poiketa oikeasta arvosta enintään 25 %, ei toteudu AGFA DX-D600 ja FUJI FDR Acselerate röntgenlaitteella DAP-arvon ollessa 0-4 mGy x cm^2 välillä. Tällöin näiden kahden röntgenlaitteiden DAP-mittareista saadut DAP-arvot eivät ole luotettavia DAP-arvojen ollessa alle 4 mGy times cm^2. |
fi |
dc.language.iso |
fin |
|
dc.publisher |
Helsingfors universitet |
sv |
dc.publisher |
University of Helsinki |
en |
dc.publisher |
Helsingin yliopisto |
fi |
dc.title |
Annoksen ja pinta-alan tulon (DAP) tarkkuus matalissa annoksissa |
fi |
dc.type.ontasot |
pro gradu-avhandlingar |
sv |
dc.type.ontasot |
pro gradu -tutkielmat |
fi |
dc.type.ontasot |
master's thesis |
en |
dc.subject.discipline |
Physics |
en |
dc.subject.discipline |
Fysiikka |
fi |
dc.subject.discipline |
Fysik |
sv |
dct.identifier.urn |
URN:NBN:fi-fe2017112252129 |
|
Files in this item
Total number of downloads: Loading...
This item appears in the following Collection(s)
Show simple item record