Rhenium Metal and Rhenium Nitride Thin Films Grown by Atomic Layer Deposition

Näytä kaikki kuvailutiedot



Pysyväisosoite

http://hdl.handle.net/10138/325623

Lähdeviite

Hämäläinen , J , Mizohata , K , Meinander , K , Mattinen , M , Vehkamäki , M , Räisänen , J , Ritala , M & Leskelä , M 2018 , ' Rhenium Metal and Rhenium Nitride Thin Films Grown by Atomic Layer Deposition ' , Angewandte Chemie (International Edition) , vol. 57 , no. 44 , pp. 14538-14542 . https://doi.org/10.1002/anie.201806985

Julkaisun nimi: Rhenium Metal and Rhenium Nitride Thin Films Grown by Atomic Layer Deposition
Tekijä: Hämäläinen, Jani; Mizohata, Kenichiro; Meinander, Kristoffer; Mattinen, Miika; Vehkamäki, Marko; Räisänen, Jyrki; Ritala, Mikko; Leskelä, Markku
Tekijän organisaatio: Department of Chemistry
Department of Physics
Mikko Ritala / Principal Investigator
Department
Päiväys: 2018-10-26
Kieli: eng
Sivumäärä: 5
Kuuluu julkaisusarjaan: Angewandte Chemie (International Edition)
ISSN: 1433-7851
DOI-tunniste: https://doi.org/10.1002/anie.201806985
URI: http://hdl.handle.net/10138/325623
Tiivistelmä: Abstract Rhenium is both a refractory metal and a noble metal that has attractive properties for various applications. Still, synthesis and applications of rhenium thin films have been limited. We introduce herein the growth of both rhenium metal and rhenium nitride thin films by the technologically important atomic layer deposition (ALD) method over a wide deposition temperature range using fast, simple, and robust surface reactions between rhenium pentachloride and ammonia. Films are grown and characterized for compositions, surface morphologies and roughnesses, crystallinities, and resistivities. Conductive rhenium subnitride films of tunable composition are obtained at deposition temperatures between 275 and 375 °C, whereas pure rhenium metal films grow at 400 °C and above. Even a just 3 nm thick rhenium film is continuous and has a low resistivity of about 90 µΩ cm showing potential for applications for which also other noble metals and refractory metals have been considered.
Avainsanat: atomic layer deposition (ALD)
rhenium
rhenium nitrides
thin films
AMMONIA-SYNTHESIS
CATALYSTS
114 Physical sciences
Vertaisarvioitu: Kyllä
Tekijänoikeustiedot: unspecified
Pääsyrajoitteet: openAccess
Rinnakkaistallennettu versio: acceptedVersion


Tiedostot

Latausmäärä yhteensä: Ladataan...

Tiedosto(t) Koko Formaatti Näytä
Manuscript_ALD_ ... ngewandte_Chemie_Final.pdf 1.050MB PDF Avaa tiedosto

Viite kuuluu kokoelmiin:

Näytä kaikki kuvailutiedot