Traceability for nanometre scale measurements : Atomic force microscopes in dimensional nanometrology

Show full item record



Permalink

http://urn.fi/URN:ISBN:978-952-6682-21-1
Title: Traceability for nanometre scale measurements : Atomic force microscopes in dimensional nanometrology
Author: Korpelainen, Virpi
Contributor: University of Helsinki, Faculty of Science, Department of Physics
Centre for metrology and accreditation (MIKES)
Publisher: Helsingin yliopisto
Date: 2014-11-26
URI: http://urn.fi/URN:ISBN:978-952-6682-21-1
http://hdl.handle.net/10138/136472
Thesis level: Doctoral dissertation (article-based)
Abstract: Reliability of measurement is a crucial element of both research and industry. Metrological traceability to the SI unit metre guarantees commensurate units, also at nanometre range. In this thesis, a traceability chain is established for nanometre scale measurements. Measurement instruments and methods were developed for accurate measurements, calibration of instruments and transfer standards, and uncertainty estimations. A metrological atomic force microscope (MAFM) was developed and characterized. The MAFM can be used in the calibration of transfer standards and in accurate AFM measurements. Calibration methods for commercial AFMs were developed. A laser diffractometer was also developed for accurate calibration of 1-D and 2-D gratings with a standard uncertainty of several tens of picometres. Laser interferometric position measurement with a calibrated vacuum wavelength is directly traceable to the realization of the metre if measuring full interferometer fringes, but there is small nonlinearity in sub-fringe measurements. Therefore, in sub-nanometre measurements the nonlinearity of the interferometer needs to be corrected. A method for this correction was developed. Laser diffraction measurement is a very accurate method for characterization of grating pitch. One of the main uncertainty sources is the uncertainty of the measured diffraction angle. Therefore, a method for calibration of the rotary table of the laser diffraction setup was developed. The method can be used also in the realization of angle scale. Methods for transfer standard calibration were developed for both pitch and step height calibration by MAFM. An acoustic method was developed for compensation of the refractive index of air in interferometric measurements. Sub-nanometre uncertainty can be reached with this method. Characterization of instruments, validation of methods and uncertainty estimations are a crucial part of traceability. Therefore, uncertainty estimates based on the characterization of the instruments are given for all measurements in this thesis. Comparisons between laboratories are the best way to ensure commensurate measurements. International comparison results between national metrology institutes for pitch and step height transfer standards are listed.Mittausten luotettavuus on tärkeää sekä tutkimuksessa että teollisuudessa. Mittausten metrologinen jäljitettävyys SI-yksiköiden määritelmiin takaa yhdenmukaiset yksiköt. Tässä väitöskirjassa luotiin jäljitettävyysketju nanometritason mittauksille. Helpoiten jäljitettävyys saadaan käyttämällä kalibroituja kalibrointinäytteitä. Väitöskirjassa kehitettiin kalibrointinäytteiden kalibrointiin sopivia laitteita ja menetelmiä. Väitöskirjassa kehitettyjä metrologista atomivoimamikroskooppia (MAFM) ja laser diffraktometria voidaan käyttää nanometritason mittauksiin käytettävien mittanormaalien kalibrointiin. Molemmissa mittauksissa jäljitettävyys metrin määritelmään saadaan laserin tyhjiöaallonpituuden kautta. Mittausepävarmuuden tunteminen on oleellinen osa jäljitettävyysketjua, joten kaikille väitöskirjan mittauksille on tehty epävarmuuslaskelmat. Tarkimmat pituusmittaukset tehdään laserinterferometrilla. Siinä käytetään hyväksi laserin tyhjiöaallonpituutta, joka pystytään määrittämään pienellä epävarmuudella. Menetelmä on tarkka, jos mitataan täysiä aallonpituuksia. Sitä lyhyemmillä etäisyyksillä mittauksessa on pieni epälineaarisuus, jonka korjaamiseksi kehitettiin yksinkertainen menetelmä. Interferometrisissa mittauksissa pitää tuntea ilman taitekerroin. Taitekerroin riippuu lämpötilasta, kosteudesta ja paineesta. Paine ja kosteus on helppo mitata riittävän tarkasti perinteisillä menetelmillä, mutta lämpötilan muutokset voivat olla nopeita ja niiden mittaaminen vaikeaa. Väitöskirjassa jatkokehitettiin menetelmää ilman lämpötilan ja taitekertoimen määrittämiseksi äänennopeuden avulla laser-säteen kulkureitillä. Kansainväliset vertailumittaukset ovat hyvä tapa varmistaa mittayksiköiden yhdenmukaisuus. Väitöskirjassa esitetään kansallisten metrologialaitosten välisiä vertailumittaustuloksia urasyvyys ja hilanormaaleille. Näissä vertailuissa on käytetty väitöskirjatyössä kehitettyjä laitteita ja menetelmiä. Tulokset ovat hyvin yhteensopivia vertailun referenssiarvon kanssa.
Subject: fysiikka
Rights: This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.


Files in this item

Total number of downloads: Loading...

Files Size Format View
traceabi.pdf 2.013Mb PDF View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record